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EBIC Amplifier用于对半导体样品，器件，微纳结构可进行EBIC,EBAC,RCI,EBIV和EBIRCH分析。通过MM3A/MM4将探针精确定位到探测位置，信号通过弱电流测量屏蔽套件（LCMK）传输到SEM/FIB视频输入端，并通过SEM/FIB成像。
LCMK-EM低电流测量套件是用于MM3A-EM微纳操纵仪的低电阻、低噪音探针支架（probe holder）。它可以对导电样品进行低电容、低电流测量，从而增强MM3A的功能。
位置编码的微纳操纵仪（Encoded Micromanipulator），兼具MM3A-EM产品的特点的同时，各轴都具有编码功能，可实现位置的编码、存储、调用。一键恢复探针到工作或停留位置。
kleindiek显微纳米操作，smart your lab。
德国kleindiek超微力测量系统是高精度微力测量测试系统，它与显微操作器联合使用,用于测量纳米压痕和超微力测量,还可用于测量细胞力学,杨氏模量,微机电系统MEMS的弹簧常数和共振频率的弹性参数。
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